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日聯(lián)科技X-Ray賦能中國智造 | 第90屆CEIA電子智造高峰論壇?·西安站

發(fā)布時間：2023-03-03 15:09:53

今日，日聯(lián)科技受邀參與受行業(yè)矚目的“第90屆CEIA電子智造高峰論壇 ”西安站。

會上，日聯(lián)科技與數(shù)百位業(yè)內(nèi)專家、學者齊聚一堂，共同探討高可靠性智能檢測解決方案，為我國電子產(chǎn)業(yè)實現(xiàn)高質(zhì)量發(fā)展獻策。

現(xiàn)場客戶云集，日聯(lián)科技專家針對工業(yè)檢測影像軟件、AI 人工智能算法、3D/CT 斷層掃描技術(shù)等在X射線檢測領(lǐng)域的應用做深度剖析。

日聯(lián)科技始終專注 X 射線自主創(chuàng)新研究，并不斷積累相關(guān)技術(shù)與產(chǎn)品的行業(yè)解決方案經(jīng)驗，實現(xiàn)了閉管微焦點射線源、集成電路檢測設(shè)備、新能源電池檢測設(shè)備、3D/CT 檢測設(shè)備和一體化壓鑄成型車架檢測設(shè)備等高端應用產(chǎn)品的不斷突破，推動國內(nèi) X 射線檢測領(lǐng)域核心部件、核心設(shè)備的國產(chǎn)替代進程。